Anritsu MP2100B BERTWave™
Sampling Oscilloscope / 샘플링 오실로스코프
A+급 중고계측기

주요특징 (Product Features)

• 4ch BER 측정기(BERT)와 샘플링 오실로스코프를 1대에 내장
• 4ch 동시 비트 에러 레이트 측정(BER 측정)이 가능
• 고품질 파형의 PPG (지터 1ps (rms))
• 고수신 감도 ED (최저 수신 감도 10 mVp-p)
• 최대 150 ksample/s 의 고속 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 실현
• 차동신호의 비트 에러 레이트 (BER 측정), 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석에 대응
• 다양한 어플리케이션에 대응한 베셀 필터를 최대 6종류까지 탑재 가능
• 깊이 18 cm 의 콤팩트한 광 모듈 평가용 측정기
• 지터 및 아이 패턴, 아이 마스크 동시 측정이 1대로 실시 가능
• 모든 WDP 측정 지원
• 샘플링과 동시에 이퀄라이저・엠퍼시스의 최적치를 연산하여 아이패턴 표시 가능
• 시뮬레이션 파형의 아이 패턴, 아이 마스크, 지터의 동시 측정이 가능

▣ 제품 포함 옵션

상세설명 (Description)

BERTWave™ MP2100B
10 / 40G 멀티 채널 광 모듈 / 디바이스 R & D 및 제조용

BERTWave MP2100B는 BER 측정기 (BERT) 와 샘플링 오실로스코프를 1대에 탑재한 측정기입니다. BERTWave MP2100B는 비트 에러 레이트 (BER 측정), 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석 등의 광모듈 시험을 1대로 실시할 수 있습니다.

BER 측정기 (BERT) 와 샘플링 오실로스코프는 광통신 시스템에서 이용되는 광모듈 시험을 위해 필수적인 측정기입니다. 이제까지 QSFP+나 SFP+로 대표되는 광모듈 시험에서는 BER 측정기 (BERT) 와 샘플링 오실로스코프를 각각 1대씩 갖출 필요가 있었습니다. 그러나 BERTWave MP2100B는 최대 4ch의 BER 측정기 (BERT) 와 샘플링 오실로스코프를 깊이 18 cm의 콤팩트한 1대의 측정기에 집약했습니다. 그로 인해 측정기 설비투자비 절감에 크게 공헌하고 공간 비용 절감에도 공헌합니다. 또한 BERTWave MP2100B는 케이블 연결을 바꾸지 않고 비트 에러 레이트 측정 (BER 측정) 과 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 동시에 실시할 수 있으므로 측정 시간을 크게 단축할 수 있습니다. 나아가, BER 측정기 (BERT) 의 채널 수를 최대 4ch까지 확장할 수 있기 때문에 4ch 동시 비트 에러 레이트 측정 (BER 측정) 과 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 동시에 실시할 수 있습니다. 또한, SFP+도 탑재 가능해서 광원을 별도 준비할 필요가 없습니다.

BERTWave MP2100B의 BER 측정기 (BERT) 는 최대 125 Mbit/s에서 12.5 Gbit/s까지의 비트 에러 레이트 측정 (BER 측정) 이 가능합니다. 또한 옵션에 따라 4ch의 BER 측정기 (BERT) 를 탑재 가능하므로 QSFP+나 AOC 등의 멀티 채널 광모듈의 테스터를 간편하게 구축할 수 있습니다. 차동신호 또한 비트 에러 레이트 (BER 측정) 뿐만 아니라 아이 마스크 시험이나 아이 패턴 분석을 지원하고 있습니다.

BERTWave MP2100B의 샘플링 오실로스코프는 전기 인터페이스인 경우 25 GHz (대표값), 광 인터페이스인 경우 9 GHz (대표값) 의 대역을 가지고 있습니다. 또 샘플링 오실로스코프로 광신호를 측정하기 위해 필요한 베셀 필터를 최대 6종류까지 탑재할 수 있습니다. 이들 베셀 필터를 사용함으로써 1대로 다양한 어플리케이션을 소광비 측정, 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 실시할 수 있습니다. 또한, BERTWave MP2100B의 샘플링 오실로스코프는 측정 속도의 고속화를 꾀하기 위해 Fast Sampling Mode를 표준 탑재하였습니다. 이 Fast Sampling Mode를 사용함으로써 최대 150 ksample/s의 샘플링 스피드 (종래 기종의 약 1.5배 속도) 를 실현했습니다. 그렇기 때문에 고속 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 실시할 수 있습니다.

지터 분석 소프트웨어 MX210001A를 사용함으로써 지터 분석, 아이 패턴 및 아이 마스크 측정을 1대로 동시에 측정할 수 있으며, 나아가 150 ksample/s의 고속 샘플링을 실현했기 때문에 측정 시간의 추가적인 효율화를 실현할 수 있습니다. 그리고, MATLAB® 과 조합합으로써 WDP, TWDP, dWDP의 측정에 대응하고 있기 때문에 특정 신호의 파형 분산을 측정할 수 있습니다.

또한, 전송 분석 소프트웨어 MX210002A의 추가에 의해 디바이스의 전송 분석 (S21게인 및 위상), 리니어 이퀄라이저・필터・엠퍼시스 연산을 한 파형 시뮬레이션 기능 (De-Embedded) 을 제공합니다. 파형 샘플링과 동시에 파형 시뮬레이션을 할 수가 있으며, 아이 패턴이나 아이 마스크 측정도 동시에 할 수 있습니다. 더욱이, MX210001A와 조합함으로써 시뮬레이션 후의 파형에서 지터 측정도 동시에 할 수 있습니다.

Technical specifications (사양)

* 위 대표이미지는 실물과 다를 수 있습니다. 구매시 상담을 통해 실물사진을 확인하시기 바랍니다.