Tektronix DSA8300 디지털 샘플링 오실로스코프 Digital Sampling Oscilloscope 텍트로닉스/ 렌탈, A+급 중고계측기
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Tektronix DSA8300 디지털 샘플링 오실로스코프 Digital Sampling Oscilloscope 텍트로닉스/ 렌탈, A+급 중고계측기

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OOUL_T_DSA8300_FDER
브랜드
중고계측기
원산지
U.S.A
모델명
DSA8300
구매형태

 

Tektronix DSA8300
Digital Sampling Oscilloscope / 디지털 샘플링 오실로스코프
A+급 중고계측기

주요특징 (Product Features)

 

• 저속 베이스 지터 :
  - 최대 8 개의 동시 획득 채널에서 일반적으로 425 fs
  - 82A04B 위상 기준 모듈을 사용하여 최대 6 개 채널에서 <100 fs
• 업계 최고의 수직 해상도 ‒ 16 비트 A/D
• 전기 분해능 : <20 µV LSB (1V 전체 범위)
• 80C07B (1 mW 전체 범위)에서 <20 nW의 광학 해상도
80C10C의 경우 <0.6µW (30mW 전체 범위)
• 80 GHz 이상의 광학 대역폭
• 70 GHz 이상의 전기 대역폭
• NRZ, RZ 및 펄스 신호 유형에 대한 120 개 이상의 자동 측정
• 80 개가 넘는 업계 표준 마스크로 자동화 된 마스크 테스트
• 복잡한 지터 / 잡음 / BER / SER 분석 (80SJNB), 복잡한 측정 지원 TDECQ, SNDR(애플리케이션)

 

다양한 광학, 전기 및 액세서리 모듈이 특정 테스트 요구 사항을 지원합니다.


광학 모듈
• 50G/100G/200G/400G의 경우 155 Mb/s ~ 10 Gb/s ~ 40 Gb/s ~ 100 Gb/s ~PAM4의 광학 데이터 속도를 지원하는 광 학 모듈
• 광학 기준 수신기 (ORR) 3은 표준 규정 준수 테스트를 위해 지정된 요구 사항을 지원합니다.
• 광학 샘플링 모듈의 높은 광학 감도, 저잡음 및 넓은 다이나믹 레인지로 장거리 광 통신 표준에 대한 단거리의 정확한 테스 트 및 특성 분석이 가능합니다.
• 완벽하게 교정 된 클럭 복구 솔루션 ‒ 데이터 픽업 손실을 수 동으로 교정할 필요가 없음
• 보정된 소광비 측정 및 가변 보정 ER 측정은 정확성과 반복성 을 보장 합니다.

 

전기 모듈
• 초 저잡음 전기 샘플러 (20GHz에서 280μV, 60GHz에서 450μV, 일반)
• 선택 가능한 대역폭 4를 통해 사용자는 최적의 데이터 수집 성능을 위해 샘플러 대역폭과 노이즈를 절충 할 수 있습니다
• 원격 샘플러 또는 소형 샘플링 익스텐더 모듈 케이블은 샘플 러를 테스트 대상 장치에 가까이 배치하여 신호 저하를 최소 화 합니다.
• 고성능 통합 TDR (10ps 전형적인 스텝 상승 시간)은 탁월한 임피던스 불연속 특성화 및 50 GHz까지의 S- 파라미터 측정 을 위한 높은 동적 범위를 지원

 

분석
• <1 GBd ~ 60 GBd의 고속 PAM4 및 PAM2 NRZ 직렬 데이 터 속도에 대한 지터, 노이즈 및 BER 분석으로 눈을 감은 정 확한 원인에 대한 통찰력 제공
• 각각의 개별 PAM 아이에 대한 포괄적인 지터, 노이즈 및 BER 분석을 통한 PAM4 신호 분석 및 전체 PAM4 신호 속성 을 평가하는 일련의 전체 측정
• 100G-SR4 / 송신기 및 TDEC (Dispersion Eye Closure) 자동화는 턴키 테스트 및 TX 광학 속성 키의 SR4 단거리 이더 넷에 대한 디버그를 제공합니다.
• 80STDEC는 고성능 트랜스미터 및 분산 안구 폐쇄 (TDEC) 측정을 간소화 하여 제조 및 적합성 검증 어플리케이션에 이 상적입니다.
• 80개가 넘는 업계 표준 마스크로 자동화 된 마스크 테스트. 새 로운 마스크를 DSA8300으로 가져와 새로운 표준을 지원할 수 있습니다.
사용자는 자동화 된 마스크 테스트를 위해 자신의 마스크를 정의 할 수 있습니다
• 지터, 노이즈, BER, 마스크 테스트 및 SDLA (Serial Data Link Analysis)는 80SJNB Essentials 및 Advanced Software Application Options를 통해 제공됩니다.
• IConnect® 소프트웨어 애플리케이션 옵션을 통해 고급 TDR 분석, S- 파라미터 측정, 시뮬레이션 모델 추출 및 직렬 링크 시뮬레이션 기능이 제공됩니다.
• 400G-M4 광학 제조 분석 소프트웨어는 광학 송신기 및 분산 눈 폐쇄 4 차 (TDECQ) 분석을 제공합니다

 

높은 테스트 처리량
• 채널당 최대 200 kS / s의 높은 샘플 획득 속도
• 효율적인 프로그래밍 인터페이스 (IEEE-488, 이더넷 또 는 로컬 프로세서 액세스)로 높은 테스트 처리량 제공

 

응용
• 통신 및 데이터 통신 구성 요소 및 시스템의 설계 / 검증
• ITU / ANSI / IEEE / SONET / SDH 준수를 위한 제조 / 테스트
• 고성능 완전 차동 TDR 측정
S-파라미터를 포함한 직렬 데이터 애플리케이션을 위한 임피던 스 특성 분석 및 네트워크 분석
• 고급 지터, 노이즈, BER 및 SDLA 분석
• IConnect를 통한 채널 및 아이 다이어그램 시뮬레이션 및 측정 기반 모델링

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① 제품박스가 손상되거나 찢어진 경우

② 고유팩 포장을 분리하거나 훼손하였을 경우

③ 렌즈에 이물질 및 지문등의 흔적이 남은 경우

  <기타 불가 사유 참고 이미지>

 

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