Aglient DSOX3054T
Oscilloscope / 오실로스코프
A+급 중고계측기
주요특징 (Product Features)
• 500 MHz
• 아날로그 4채널
• 8.5인치의 대형 정전식 터치 스크린으로 간편하게 신호 확인 및 분석
• 독점 기능인 Zone 터치 트리거링으로 수 초 내에 신호 분리
• 1,000,000 wfms/s의 업데이트 속도로 더 많은 신호를 상세하게 확인
• 최대 4 Mpts의 메모리로 더 많은 데이터 캡처
• 완전한 업그레이드를 통해 간편하게 측정 성능 확장: 대역폭, 디지털 채널, 20 MHz 임의 파형 생성기(WaveGen), 3디지트 전압계, 시리얼 트리거와 분석 그리고 마스크 테스트 기능을 언제든지 추가 가능
상세설명 (Description)
500 MHz, 아날로그 4채널
터치, 발견, 문제 해결
3000T X-시리즈는 A 모델의 혁신적인 모든 기능을 갖추고 정전식 터치 스크린, 터치용으로 설계된 사용자 인터페이스, 전용 영역 터치 트리거를 추가합니다. 이 모든 기능은 업계 최고의 100만 wfm/wfm/m의 타협 없는 업데이트 속도와 결합됩니다. 모든 신호 세부 사항을 보고 있다는 확신을 주고 문제를 발견할 수 있는 능력을 제공합니다. 그리고 새로운 분석 기능이 추가되어 가장 어려운 문제를 신속하게 해결하는 데 도움이 됩니다.
3000T X-시리즈는 보다 신속한 측정에 필요한 모든 성능과 기능을 제공함으로써 범용 오실로스코프에서 기대할 수 있는 이점을 다시 한 번 새롭게 정의하고 있습니다.
Technical specifications (사양)
모델 | 3054T | |
---|---|---|
대역폭 1 (-3dB) | 500 MHz | |
계산된 상승 시간 (10-90%) | ≤ 700 ps | |
입력 채널 | DSOX | 4 |
MSOX | 4 + 16 | |
최대 샘플링 속도 | 2.5 GSa/s (전체 채널), 5 GSa/s (반채널) | |
최대 메모리 깊이 | 표준 4 Mpts, 표준 세그먼트 메모리 | |
디스플레이 크기 및 유형 | 8.5인치 정전식 터치 제스처 지원 디스플레이 | |
파형 업데이트 속도 | 초당 100만 개 이상의 파형 | |
수직 시스템 아날로그 채널 | ||
하드웨어 대역폭 제한 | 약 20 MHz (선택 가능) | |
입력 커플링 | AC, DC | |
입력 임피던스 | 선택 가능 : 1 MΩ ± 1% (14 pF), 50 Ω ± 1.5% | |
입력 감도 범위 | 100 MHz ~ 500 MHz 모델 : 1 mV/div ~ 5 V/div 2(1 MΩ 및 50 Ω) 1 GHz 모델 : 1 mV/div ~ 5 V/div 2 (1 MΩ), 1 mV/div ~ 1 V/div (50 Ω) |
|
수직 분해능 | 8비트 (측정 분해능은 평균 12비트) | |
최대 입력 전압 | 300 Vrms, 400Vpk. 과도 과전압 1.6kVpk N2843A 10:1 프로브 사용 시 : 300 Vrms 주파수 제한(사인파 입력 가정) : 400 Vpk until 40 kHz. 6 Vpk까지 20 db/dec로 제한 |
|
DC 수직 정확도 | ±[DC 수직 게인 정확도 + DC 수직 오프셋 정확도 + 0.25% 풀 스케일]2 | |
DC 수직 게인 정확도1 | ± 2.0% 풀 스케일2 | |
DC 수직 오프셋 정확도 | ± 0.1 div ± 2 mV ± 오프셋 설정의 1% | |
채널간 isolation | DC ~ 각 모델의 최대 규정 대역폭에서 100:1 이상(채널에서 동일한 V/div 및 커플링으로 측정) |
|
오프셋 범위 | ± 2 V (1 mV/div ~ 200 mV/div) ± 50 V (> 200 mV/div ~ 5 V/div) |
|
수직 시스템 디지털 채널 | ||
디지털 입력 채널 | 16디지털(D0 ~ D15. pod 1: D7 ~ D0, Pod 2: D15 ~ D8) | |
임계값 | 포드(pod)당 임계값 | |
임계값 선택 | TTL (+1.4 V), 5V CMOS (+2.5 V), ECL (-1.3 V), 사용자 정의(포드별로 선택 가능) | |
사용자 정의 임계값 범위 | ± 8.0 V (10 mV씩 증가/감소) | |
최대 입력 전압 | ± 40 Vpeak CAT I, 순간 과전압 800 Vpk | |
임계값 정확도1 | ± (100 mV + 임계값 설정의 3%) | |
최소 전압 스윙 | 500 mVpp | |
입력 임피던스 | 입력 임피던스 | |
입력 커패시턴스 | ~8 pF | |
~8 pF | 1 비트 | |
1. 보증 사양을 의미하며 다른 모든 사항은 일반 사양입니다. 2. 사양은 30분의 예열시간 후에 유효하며 펌웨어 교정 온도로부터 ±10°C의 오차가 있습니다. 1 mV/div 및 2 mV/div는 4 mV/div 설정의 확대율입니다. 수직 정확도 계산의 경우, 1 mV/div 및 2 mV/div 감도 설정에 32mV의 풀 스케일을 사용하십시오.
|
||
타임베이스 범위 | 1 ns/div ~ 50 s/div | |
타임베이스 정확도1 | ±1.6 ppm + aging factor (1년차 : ±0.5 ppm, 2년차 : ±0.7 ppm, 5년차 : ±1.5 ppm, 10년차 : ±2.0 ppm) | |
타임베이스 지연 시간 범위 | 프리 트리거 | 화면 폭 또는 250 μs 중 큰 값 |
포스트트리거 | ±100 ns | |
∆ 시간 정확도 (커서 사용) | ±(타임베이스 정확도 x 판독값) ± (0.0016% x 화면 폭) ± 100 ps | |
모드 | 메인, 줌, 롤, XY | |
메인, 줌, 롤, XY | 채널 1과 2에서만 지원. 외부 트리거 입력의 Z축 블랭킹, 1.4 V 임계값. 대역폭 : 최대 대역폭. 1 MHz에서의 위상 오류 : 0.5도 미만 | |
수평 시스템 디지털 채널 | ||
최소 검출 펄스 폭 | 수평 시스템 디지털 채널 | |
채널 간 스큐 | 2 ns (일반); 3 ns (최대) | |
수집 시스템 | ||
아날로그 채널 최대 샘플링 속도 | 5 GSa/s (반채널 인터리빙), 2.5 GSa/s (모든 채널) | |
아날로그 채널 최대 레코드 길이 | 4 Mpts (반채널 인터리빙), 2 Mpts (전체 채널) | |
디지털 채널 최대 샘플링 속도 | 1.25 GSa/s (전체 포드) | |
디지털 채널 최대 레코드 길이 | 2 Mpts (디지털 채널에만 해당) | |
수집모드 | 일반 |
기본 모드 |
피크검출 | 모든 타임베이스 설정에서 250 ps의 좁은 글리치 캡처 | |
평균 | 2, 4, 8, 16, 64, ... ~ 65,536에서 선택 가능 | |
고분해능 | 실시간 박스카 평균화는 랜덤 노이즈를 낮추고 수직 분해능을 12비트 분해능으로 효과적으로 향상 (5 GSa/s에서 10 μs/div 이하, 2.5 GSa/s에서 20 μs/div 이상) |
|
세그먼트 | 세그먼트 메모리는 활동 간 데드 타임이 긴 데이터 스트림에 사용할 수 있는 메모리를 최적화 최대 세그먼트 = 1000. Re-Arm 시간=1 μs (트리거 이벤트 간 최소 시간) |
|
시간 모드 | 일반 | 기본 모드 |
Roll | 화면을 가로질러 오른쪽에서 왼쪽으로 이동하는 파형을 표시함. 50 ms/div 또는 더 느린 타임베이스에서 가능 | |
XY | 전압 대 전압 스케일로 표시. 타임베이스는 200 ns/div ~ 50 ms/div로 설정 가능 | |
1. 보증 사양을 나타내며 다른 모든 사항은 일반 사양입니다. 사양은 30분의 예열시간 후에 유효하며 펌웨어 교정 온도로부터 ±10 °C 의 오차가 있습니다.
|
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<기타 불가 사유 참고 이미지>
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