HIOKI 1270은 단종된 모델입니다. *대체모델 및 추천모델 상담문의 : 070-8235-1019
[HIOKI 1270] X-Y 보드 하이테스터 / X-Y BOARD HiTESTER
HIOKI 1270 X-Y BOARD HiTESTER
주요특징 (Features)
• 총 4개의 암(전면 2개, 후면 2개)으로 양면 동시 테스트
• 핀 저저항 측정 기능으로 크랙 등 눈에 보이지 않는 결함 검출(옵션 기능)
• 연속성 테스트 및 커패시턴스 측정과 함께 광범위한 테스트 기능(*1)
• 높은 수준의 정밀도를 유지하면서 최대 0.012초/단계의 고속 테스트
• 결함으로 인한 정전 용량의 미세한 변화를 안정적으로 감지하는 5aF의 고해상도(1aF = 10^-6pF)
• 20μm의 최소 패드 직경 덕분에 미세 피치 미세 패드의 안정적인 프로빙
• 최대 250V의 테스트 전압으로 절연 절연 내력 테스트 지원(옵션 기능)
• 고속 연착륙 기능 및 프로브 충격 마크를 최소화하는 충격 흡수 프로브
• 테스트 기준값 획득 및 간단한 기본 데이터 획득에 필요한 작업의 자동화
▣ 모델별 사양
모델 | 보드사이즈 |
---|---|
1270 | 보드 사이즈 : 50 × 50 ~ 400 × 330 mm |
1271 | 보드 사이즈 : 50 × 70 ~ 610 × 510 mm |
상세설명 (Description)
1270 및 1271은 뛰어난 비용 성능을 제공하는 고정 장치가 없는 양면 베어 보드 테스터입니다. 전면 2개, 후면 2개 총 4개의 Arm을 사용하여 옵션 보드의 양면을 동시에 테스트할 수 있으며 IVH 또는 구멍.
Technical specifications
모델 | 1270 | 1271 |
---|---|---|
Number of arms | 4 (2 front, 2 back) | |
Number of test steps | Max. 40,000 (during continuous testing, 300,000) | |
Measurement time | Max. 84 steps/sec. (0.1 mm movements, simultaneous probing with 4 arms, capacitance measurement) | |
Minimum pad diameter | φ 20 μm | |
Probe working area | 394 mm (15.51 in) W × 324 mm (12.76 in) D | 604 mm (23.78 in) W × 504 mm (19.84 in) D |
Clampable/transportable board dimensions | Thickness: 0.6 mm (0.02 in) to 3.2 mm (0.13 in) | |
50 mm (1.97 in) W × 50 mm (1.97 in) H to 400 mm (15.75 in) × 330 mm (12.99 in) H | 50 mm (1.97 in) W × 70 mm (2.76 in) H to 610 mm (24.02 in) × 510 mm (20.08 in) H | |
Power supply | 200 V AC ±10% (single-phase), 50/60 Hz, 3 kVA | |
Dimensions and mass | 1,500 mm (59.06 in) W × 1,800 mm (70.87 in) H × 860 mm (33.86 in) D, 1,000 kg (35,273.4 oz) | 1,760 mm (69.29 in) W × 2,000 mm (78.74 in) H × 860 mm (33.86 in) D, 1,200 kg (42,328.0 oz) |
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분실/ 파손/ 고장/ 오염 발생 | 상품택/ 구성품 분실 및 취급 부주의로 인한 파손/고장/오염 등이 발생한 경우 |
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기타 불가사유 | ① 제품박스가 손상되거나 찢어진 경우 ② 고유팩 포장을 분리하거나 훼손하였을 경우 ③ 렌즈에 이물질 및 지문등의 흔적이 남은 경우 |
<기타 불가 사유 참고 이미지>
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