[HIOKI IM3570] 임피던스 분석기
HIOKI IM3570 IMPEDANCE ANALYZER
주요특징 (Features)
• LCR 측정, DCR 측정, 스위프 측정 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현
• LCR 모드에서 빠른 1.5ms (1kHz), 0.5ms (100kHz)의 고속 측정
• 기본 정확도 ± 0.08 %의 고정밀도 측정
• 완벽한 압전 소자(piezoelectric elements)의 공진 특성(resonance characteristics) 검사
• 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 낮은 ESR 측정 인덕터 (코일 트랜스)의 DCR와 LQ 측정에 이상적
• 분석모드에서 주파수 스윕, 레벨 스윕,측정 인터벌 조절 가능
Technical specifications
Measurement modes | LCR mode, Analyzer mode (Sweeps with measurement frequency and measurement level), Continuous measurement mode |
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Measurement parameters | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
Measurement range | 100 mΩ to 100 MΩ, 12 ranges (All parameters are determined according to Z) |
Display range | Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp : ±(0.000000 [unit] to 9.999999G [unit], Absolute value display for Z and Y only θ : ±(0.000° to 999.999°), D : ±(0.000000 to 9.999999) Q : ±(0.00 to 99999.99), Δ % : ±(0.0000% to 999.9999%) |
Basic accuracy | Z : ±0.08%rdg. θ: ±0.05° |
Measurement frequency | 4 Hz to 5 MHz (10 mHz to 100 Hz steps) |
Measurement signal level | V mode/CV mode (normal mode): 50 mV to 5 Vrms, 1 mVrms steps (up to 1 MHz), 10 mV to 1 Vrms, 1 mVrms steps (over 1.0001 MHz) CC mode (normal mode): 10 μA to 50 mArms, 10 μArms steps (up to 1 MHz) 10 μA to 10 mArms, 10 μArms steps (over 1.0001 MHz) |
Output impedance | Normal mode: 100 Ω Low impedance high accuracy mode: 10 Ω |
Display | 5.7-inch color TFT, display can be set to ON/OFF |
Measurement time | 0.5 ms (100 kHz, FAST, display OFF, representative value) |
Measurement speed | FAST/ MED/ SLOW/ SLOW2 |
Functions | DC bias measurement, Comparator, Panel loading/saving, Memory function |
Interface | EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB communication, USB memory, LAN |
Power supply, consumption | 90 to 264 V AC, 50/60 Hz, 150 VA max. |
Dimensions, mass | 330 mm (12.99 in) W × 119 mm (4.69 in) H × 307 mm (12.09 in) D, 5.8 kg (204.6 oz) |
Accessary
기본 악세사리 |
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• Power cord ×1 |
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분실/ 파손/ 고장/ 오염 발생 | 상품택/ 구성품 분실 및 취급 부주의로 인한 파손/고장/오염 등이 발생한 경우 |
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기타 불가사유 | ① 제품박스가 손상되거나 찢어진 경우 ② 고유팩 포장을 분리하거나 훼손하였을 경우 ③ 렌즈에 이물질 및 지문등의 흔적이 남은 경우 |
<기타 불가 사유 참고 이미지>
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