[HIOKI 3535] LCR HiTester
HIOKI 3535 LCR HiTester

주요특징 (Features)

• 측정 주파수 100kHz~120MHz의 광대역
• 6ms의 고속 측정
• Load보정 기능 내장
• 분류(BIN) 측정(10분류)
• Max.200개의 측정치 Memory
• Head Amp의 탈착 가능
• 9442 PRINTER로 측정치, Comparator결과 인쇄 가능(Option)

상세설명 (Description)

• 헤드 앰프 탈착 가능
헤드 앰프는 본체와 탈착할 수 있습니다.

본체~헤드 앰프간은 케이블로 접속해, 헤드 앰프를 피측정물의 근처에 설치하는 것으로 측정 리드의 영향을 방지할 수 있습니다.

또, 헤드 앰프의 교환으로 용이하게 측정 범위가 변해집니다.

• 광범위한 측정 주파수
100 kHz~120 MHz의 광범위하게 둘 수 있는 주파수대역을 4자리수 분해가능으로 설정 가능.

• 최고 속도 6 ms의 고속 측정
FAST/NORMAL/SLOW/SLOW2의 4 단계의 샘플링 속도의 변경이 생겨 최고 속도 약 6 ms(｜Z｜표시시)의 고속 샘플링으로 라인의 효율화가 가능합니다.
(표시 파라미터의 종류에 의해 다릅니다. )

• 14 종류의 파라미터 측정
Z｜,｜Y｜,θ, Rp, Rs(ESR), G, X, B, Lp, Ls, Cp, Cs, D(tanδ), Q의 파라미터를 측정할 수 있어 필요한 파라미터를 PC에 수중에 넣는 일도 가능합니다.

• 측정하면서 환경 설정
측정 주파수, 측정 신호 레벨등의 측정 조건은 측정치를 모니터 하면서 변경할 수 있어 사전 측정이나 평가 기준의 설정에 효과를 발휘합니다.

• 30방법의 측정 조건을 메모리
30방법의 콤퍼레이터 조건을 포함한 측정 조건을 메모리 할 수 있어 반복 측정이 많은 라인에서의 시료 변경시에 민첩한 대응을 할 수 있습니다.

또, 복수의 측정 조건을 메모리 해, 5방법의 연속 실행이 가능.
콤퍼레이터 동작시는, 1대로 게다가 일련의 동작으로, 이것들 조건의 AND 출력을 얻을 수 있습니다.

• 터치 패널의 대화형 조작
변경하고 싶은 항목을 패널에 접하는 것만으로, 필요한 항목만이 차례차례 표시되는 대화형의 용이한 조작을 실현.

터치 패널을 채용해, 키스위치를 모두 없앤 프런트 패널은, 조작이 어렵다고 하는 이미지를 일소 했습니다.

• 로드 보정 기능
기준이 되는 시료를 측정해, 측정치를 보정할 수가 있습니다. 이 기능으로 기기간의 측정치를 맞출 수가 있습니다.

• BIN(분류) 측정
2 종류의 측정 항목에 대해 최대 10 분류 측정을 할 수 있어 측정치에 의한 랭크 분류가 용이하게 할 수 있습니다.

• 측정치의 메모리

최대 200개의 측정치를 본체에 메모리 할 수 있습니다. 메모리 한 데이터는 일괄로 PC나 프린터에 전송 할 수 있습니다.  

• 주사용처
- 인덕터 생산 공정
- 자기 헤드 생산 공정
- 각종 연구개발 부문

Technical specifications

Accessary